比表面及介孔微孔测量仪

 详细介绍

BSD-PS型静态容量法比表面及介孔微孔测量仪理论与报告内容：

1、吸附、脱附等温线；
2、BET单点法比表面SBET-O
3、BET多点法比表面SBET-M  ，BET常数CBET     
4、朗格缪尔（Langmuir）比表面S Langmuir ，朗格缪尔平衡常数b Langmuir  
5、统计吸附层厚度法外比表面（STSA）S外
6、粒度估算报告和真密度；
7、BJH法孔容孔径分布；
8、MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布（为BJH法的补充，适合对片层状结构材料分析）；
9、 t-plot法（Boder）微孔分析；
10、MP法（Brunauer） 微孔分析；
11、D-R法（Dubinin- Astakhov）微孔分析；

BSD-PS型静态容量法比表面及介孔微孔测量仪性能简介：

测试精度： 测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%；
测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。
分析站数量：具有1个样品分析站，1个P0测试站，2个样品脱气站；
P0测试：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，分压测试的高性；
样品预处理： 主机自带一体式脱气装置，同时处理样品数量：2；两路脱气站具有独立温控，并具有独立定时功能，可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；
样品预处理模式：具有国内的“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题；
测试效率： 智能投气量控制，中小吸附量样品2-3min/分压点，中大吸附量样品3-5min/分压点；BET多点法15-30min/1个样品；BET单点法6-10min/1个样品；标准孔径测试60-120min/1个样品；精细孔径测试120-300min/1个样品；以上测试时间不包含样品预处理时间；
压力测试：压力测试范围0-1.6bar（0-160KPa），精度误差≤0.15%；
液氮面控制：具有液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；
图形化控制界面：亲和的控制监视界面，将复杂的仪器工作状态以结构图的形式展现，使仪器的工作状态一目了然，并可在结构图上对各个阀门、真空泵、氮杯升降梯、温控等所有硬件进行操作，赏心悦目；
智能自检系统：仪器具有硬件自检和气路气密性自检功能，能够自动检测样品管是否安装、试管夹套是否拧紧，并检查并确定漏气位置，给出文字提示和语音提示。
语音提示：具有独特的智能语音提示功能；

更新时间：2024/3/26 15:19:15